泰瑞工業檢驗有限公司


服務 專業 責任   Tel : 05-6938463   E_mail : service@tairay.com.tw

陣列式超音波檢測(Phased Array)

陣列超音波是什麼

  • 高階的超音波檢查技術,使用來檢查缺陷,估算缺陷尺寸,及檢查影像顯示
  • 經由激發時間及接收電子訊號操作,可以獲得所需要的探頭特性,如橫波,縱波,及入射角度等等…

陣列超音波的優點

  • 電子掃描取代探頭移動。
  • 使用一個探頭, 同時作多種角度檢查。
  • 能檢查複雜幾何形狀之工件,或有限接觸位置的檢查
  • 能夠取代高危險性或高成本的射線檢查
  • 可以紀錄C-scan(影像) 和全部A-scan。可以容易再驗證
  • 最於檢測人員之技術依賴度降低
  • 多種角度可以一次檢查完成,不用多次更換角度檢查

利益

  • 速度快
  • 容易分析(影像)
  • 提供掃瞄記錄器,可記錄掃瞄時的位置資料, 提供完整的資料紀錄
  • 可靠度– 減少移動探動
  • 人員技術之依賴 

請參考OLYMPUS-NDT說明     http://www.olympus-ims.com/weldinspection/