陣列式超音波檢測(Phased Array)
陣列超音波是什麼
高階的超音波檢查技術,使用來檢查缺陷,估算缺陷尺寸,及檢查影像顯示
經由激發時間及接收電子訊號操作，可以獲得所需要的探頭特性,如橫波,縱波,及入射角度等等…
陣列超音波的優點
電子掃描取代探頭移動。
使用一個探頭, 同時作多種角度檢查。
能檢查複雜幾何形狀之工件,或有限接觸位置的檢查
能夠取代高危險性或高成本的射線檢查
可以紀錄C-scan(影像) 和全部A-scan。可以容易再驗證
最於檢測人員之技術依賴度降低
多種角度可以一次檢查完成,不用多次更換角度檢查
利益
速度快
容易分析(影像)
提供掃瞄記錄器,可記錄掃瞄時的位置資料, 提供完整的資料紀錄
可靠度– 減少移動探動
人員技術之依賴
請參考OLYMPUS-NDT說明 http://www.olympus-ims.com/weldinspection/